HIỆN ĐẠI HÓA KÍNH HIỂN VI ĐO LƯỜNG VẠN NĂNG UIM-21 SỬ DỤNG TRONG CƠ KHÍ CHÍNH XÁC | Biên | TNU Journal of Science and Technology

HIỆN ĐẠI HÓA KÍNH HIỂN VI ĐO LƯỜNG VẠN NĂNG UIM-21 SỬ DỤNG TRONG CƠ KHÍ CHÍNH XÁC

Thông tin bài báo

Ngày nhận bài: 07/05/24                Ngày hoàn thiện: 10/06/24                Ngày đăng: 11/06/24

Các tác giả

Bùi Đức Biên Email to author, Viện Công nghệ - Tổng cục Công nghiệp quốc phòng

Tóm tắt


Trong cơ khí chính xác, kính hiển vi đo lường được sử dụng rộng rãi để xác định các kích thước thẳng và kích thước góc của các chi tiết cơ khí trong hệ tọa độ đề các vuông góc hoặc tọa độ cực. Hiện nay, nhiều kính hiển vi đo lường thế hệ cũ có hệ quang học đã xuống cấp dẫn đến quá trình đo gặp nhiều khó khăn, gây ra sai số lớn, phần tính toán thực hiện thủ công nên năng suất đo không cao. Nghiên cứu hướng đến hiện đại hóa các thiết bị này bằng cách thay thế hệ thống đo quang học kiểu cổ điển bằng hệ thống thước quang điện tử và xây dựng phần mềm hỗ trợ tính toán cho phép khôi phục các chức năng đã xuống cấp, nâng cao hiệu suất và độ chính xác. Phần mềm đo được phát triển sử dụng ngôn ngữ lập trình Graphic, tích hợp các bài đo cơ bản trên cơ sở dữ liệu thu được từ hệ thống thước quang, cho phép lưu trữ kết quả và thông tin phép đo. Kính hiển vi đo lường sau hiện đại hóa có thông số đo lường quan trọng như phạm vi đo tới 200 mm, độ phân giải 0,0002 mm, sai số không vượt quá (3 + L/30) µm với L là chiều dài đo tính bằng mm. Phần mềm đo chuyên dụng góp phần làm giảm thời gian trên mỗi lần đo, nâng cao năng suất và tiện lợi hơn cho người sử dụng.

Từ khóa


Kính hiển vi đo lường; Thước quang điện tử; Khối đọc kỹ thuật số; Phần mềm Labview; Độ không đảm bảo đo

Toàn văn:

PDF

Tài liệu tham khảo


[1] Y. B. Kolyada, Y. S. Korolev, V. G. Razgulin, et al., "Digital measuring microscope," Measurement Techniques, vol. 48, no. 5, pp. 445-449, 2005.

[2] G. Bi, X. Che, Z. Yang, and A. Ma, "The measuring method for actual total magnification of metallographic microscope – digital image method," IOP Conference Series: Materials Science and Engineering, vol. 397, 2018, Art. no. 012148.

[3] V. I. Teleshevskii, A. V. Shulepov, and O. Y. Krasyuk, "Computerization of measuring microscopes with digital analysis," Measurement Techniques, vol. 48, no. 8, pp. 797-802, 2006.

[4] N. A. Vikhareva, "Estimation of errors of measurement methods on a universal measuring microscope," (in Russian), Methods and materials, vol. 8, pp. 176-183, 2021.

[5] S. H. Jo, K. T. Kim, J. M. Seo, et al., "Effect of impression coping and implant angulation on the accuracy of implant impressions: an in vitro study," The Journal of advanced prosthodontics, vol. 2, no. 4, pp. 128-133, 2010.

[6] A. Novikov, A. Rodishev, A. Gorin, and M. Tokmakova, "Modeling and research of the process of preparing the surface of a part for thermal spray coating," Matec Web of Conferences, vol. 329, 2020, Art. no. 03052.

[7] X. C. Le, V. V. Nguyen, and H. H. Hoang, "Research to improve the accuracy of roundness measurement by laser scan micrometer method," (in Vietnamese), in Proc. the 7th National Metrology Conference, Hanoi, 2020, pp. 253-258.

[8] H. H. Hoang, X. C. Le, and V. V. Nguyen, "Non-contact measurement profile 2D of revolution surface by using a laser scan micrometer device," in Proc. the 2th International Conference on Material, Machines, and Methods for Sustainable Development, Nha Trang, 2020, pp. 205-212.

[9] R. N. Loginov and O. V. Aleksashina, "Modernization of the instrumental microscope," (in Russian), Journal of Natural Sciences Research, vol. 7, no. 4, pp. 27-38, 2022.

[10] S. L. Bereznitskii, D. D. Bogachenko, I. V. Gaydaenko, et al., "Modernization of the MAS-1 microscope for use in measurements of the spectra of interval conversion electrons," Measurement Techniques, vol. 52, no. 1, pp. 33-36, 2009.

[11] M. Kuzinovski, T. Tasev, M. Tomov, et al., "Modernisation of the universal measuring microscope model UIM-21 supported by a processor QM-Data 200," Mechanical Engineering Scientific Journal, vol. 27, no. 1, pp. 23-30, 2008.

[12] V. D. Le, T. H. Pham, and V. H. Nguyen, Sensors for Measurement and Control Engineering, Hanoi, VN: Science and Technics Publishing House, (in Vietnamese), 2007.

[13] Mitutoyo Corporation, “Scale units and display counters. Linear scale DRO systems,” Catalog No. E13000. [Online]. Available: https://www.mitutoyo.com. [Accessed Nov. 01, 2023].

[14] J. Lisiecki and S. Klysz, "Estimation of measurement uncertainty," Research Works of Afit, vol. 22, no. 1, pp. 81-114, 2007.




DOI: https://doi.org/10.34238/tnu-jst.10311

Các bài báo tham chiếu

  • Hiện tại không có bài báo tham chiếu
Tạp chí Khoa học và Công nghệ - Đại học Thái Nguyên
Phòng 408, 409 - Tòa nhà Điều hành - Đại học Thái Nguyên
Phường Tân Thịnh - Thành phố Thái Nguyên
Điện thoại: 0208 3840 288 - E-mail: jst@tnu.edu.vn
Phát triển trên nền tảng Open Journal Systems
©2018 All Rights Reserved